多晶X射線(xiàn)衍射儀檢測
項目 | 細則 | 收費 | 說(shuō)明 |
單掃一張圖譜 | 看d值，相對強度，不包括物相分析；每樣每次長(cháng)15min，延長(cháng)時(shí)間按100元15min計，不足15min按15min計 | / | 1.長(cháng)時(shí)間數據手機（大于5h）、復雜樣品等特殊測試，價(jià)格需面議 |
晶胞參數測定 | 已知的純物相，掃描時(shí)間≤30min；掃描時(shí)間超過(guò)30min，延長(cháng)時(shí)間按200元/30min計，不足30min按30min計 | / | |
晶粒尺寸測定 | 已知的純物相，掃描時(shí)間≤30min；掃描時(shí)間超過(guò)30min，延長(cháng)時(shí)間按200元/30min計，不足30min按30min計 | / | |
高分子結晶度測試 | 已知的確定物相，掃描時(shí)間≤1h；掃描時(shí)間超過(guò)1h，延長(cháng)時(shí)間按200元/30min計，不足30min按30min計 | / | |
階梯掃描法 | / | / | |
物相半定量 | 僅限于兩種已知物相，掃描時(shí)間≤1h；掃描時(shí)間大于1h，延長(cháng)時(shí)間按200元/30min計，不足30min按30min計；多出物相，另加100元/相 | / |
多晶X射線(xiàn)衍射儀檢測
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線(xiàn)衍射儀，采用創(chuàng )造性的達芬奇設計，通過(guò)TWIN-TWIN光路設計，成功實(shí)現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無(wú)需對光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù)，使用戶(hù)可以在1分鐘內完成從線(xiàn)光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問(wèn)題從此成為歷史！
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個(gè)衍射峰（注意不是一個(gè)衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過(guò)0.01度，布魯克AXS公司向大家提供保證！
*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。
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