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臺式雙面電池PID測試儀

  • 更新時(shí)間:  2024-03-04
  • 產(chǎn)品型號:  PIDcon bifacial
  • 簡(jiǎn)單描述
  • 臺式雙面電池PID測試儀用于單面及雙面電池,HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽(yáng)能電池、晶體硅太陽(yáng)能電池、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德國FraunhoferCSP公司合作開(kāi)發(fā)了一種可作為商業(yè)應用的臺式太陽(yáng)能電池和微型模塊的電勢誘導退控制的測量解決方案
詳細介紹

雙面電池問(wèn)題:        

將電池的后側改為光蓋,被發(fā)現使雙面PERC電池和模塊對后側的新型PID敏感,即去極化型PID(PID-p)和腐蝕型PID機制(PID-c)。

解決方案:        

為了測試電池的這些類(lèi)型的PID,我們開(kāi)發(fā)了PIDcon雙面體。它是用溫度、照明和高電壓對完整的電池進(jìn)行壓力測試,它可以在兩個(gè)方向上進(jìn)行極化。通過(guò)測量照明下的IV曲線(xiàn),可以確定PID的靈敏度。

臺式雙面電池PID測試儀應用:        

太陽(yáng)能電池片PID檢測

HIT、Topcon 、PERC、AL-BSF、PERC+、雙面PERC、PERT、PERL和IBC太陽(yáng)能電池的研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制。

欲了解更多信息,請訪(fǎng)問(wèn) www.pidcon。。com        


臺式雙面電池PID測試儀PIDcon bifacial的特點(diǎn):        

● 符合IEC62804-TS標準

● 易于使用的臺式設備

● 能夠測量c-Si太陽(yáng)能電池和微型模塊

● 無(wú)需氣候室

● 無(wú)需層壓電池

● 測量速度:小時(shí)至數天

● 可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、漏電流、濕度、溫度

● 太陽(yáng)能電池可以在以后通過(guò)EL等進(jìn)行研究

● 基于IP的系統允許遠程操作和技術(shù)支持從世界任何地方

標準試驗條件:        

● 電壓:upto1.5kV

● 溫度:85°C

● 測試時(shí)間:4hours(typical)

● 干燥條件下,不需要水

類(lèi)型                          受壓                                                     恢復
PID-s正面                85°C,+1.5 kV                             85°C,-1.5 kV

PID-p背面             85°C,+1.5 kV,無(wú)照明 85°C,        暗儲存或光照

PID-c背面                   85°C,+1.5 kV, 照明                    不可恢復

層壓      150°C,20min

樣品尺寸   210×210mm

適用于 A   PERC,AL-BSF,IBC,PERC+,雙面PERC,p型和n型電池 功率要求 110/230 V AC, 50/60 Hz

資質(zhì)認證   根據ISO9001準則制造,符合CE標準


參考文獻: cells  (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced  degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163

(2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tr?ndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic

modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).

(3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects  at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).

(4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells

as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Gro?er, S. Richter, A. H?hnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under  Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. P?blau, S. Gro?er, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible  PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

(7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential  Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.




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